技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES在納米CT圖像定量分析的過程中，相信大家都遇到過這樣的情況：很難找到一個合適的閾值來分割我們要分析的對象。尤其是對于顯微ct掃描樣品中的細(xì)微結(jié)構(gòu)而言，由于沒有足夠高的分辨率來表征，高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)造成其灰度要低于正常值，局部高襯度X射線三維掃描襯度降低。這就對我們的閾值選取、個體分割造成了非常大的困難，尤其是動輒幾百兆，幾個G的三維CT數(shù)據(jù)。所以在進(jìn)行閾值分割之前，各種濾波工具就被我們拿來強(qiáng)化對象，弱化背景噪音，以期能夠得到一個更準(zhǔn)確的結(jié)果。各向異性擴(kuò)散濾波新版中...
掃一掃，關(guān)注公眾號
服務(wù)電話：
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
服務(wù)熱線：
021-34685181
17621138977
當(dāng)前位置：